Currie, L. A.; Benner, B. A.; Kessler, J. D.; Klinedinst, D. B.; Klouda, G. A.; Marolf, J. V.; Slater, John F.; Wise, S. A.; Cachier, H.; Cary, R.; Chow, J. C.; Watson, J.; Druffel, E. R. M.; Masiello, C. A.; Eglinton, T. I.; Pearson, A.; Reddy, C. M.; Gustafsson, O.; Hartmann, P. C.; Quinn, J. G.; Hedges, J. I.; Prentice, K. M.; Kirchstetter, T. W.; Novakov, T.; Puxbaum, H.; Schmid, H.
(National Institute of Standards and Technology, 2002-05)